SFH464 View Datasheet(PDF) - OSRAM GmbH
Part Name
Description
MFG CO.
'SFH464' PDF : 10 Pages View PDF
Version 1.1
SFH 464 E7800
Glossary
1) Radiant intensity / Half angle: An aperture is used
in front of the component for measurement of the
radiant intensity and the half angle (diameter of the
aperture: 1.1 mm; distance of aperture to case back
side: 4.0 mm). This ensures that solely the radiation
in axial direction emitting directly from the chip
surface will be evaluated during measurement of the
radiant intensity. Radiation reflected by the bottom
plate (stray radiation) will not be evaluated. These
reflections impair the projection of the chip surface by
additional optics (e.g. long-range light reflection
switches). In respect of the application of the
component, these reflections are generally
suppressed by apertures as well. This measuring
procedure corresponding with the application
provides more useful values. This aperture
measurement is denoted by "E 7800" added to the
type designation.
Glossar
1) Strahlstärke / Halbwinkel: Die Messung der
Strahlstärke und des Halbwinkels erfolgt mit einer
Lochblende vor dem Bauteil (Durchmesser der
Lochblende: 1,1 mm; Abstand Lochblende zu
Gehäuserückseite: 4,0 mm). Dadurch wird
sichergestellt, dass bei der Strahlstärkemessung nur
diejenige Strahlung in Achsrichtung bewertet wird,
die direkt von der Chipoberfläche austritt. Von der
Bodenplatte reflektierte Strahlung (vagabundierende
Strahlung) wird dagegen nicht bewertet. Diese
Reflexionen sind besonders bei Abbildungen der
Chipoberfläche über Zusatzoptiken störend (z. B.
Lichtschranken großer Reichweite). In der
Anwendung werden im allgemeinen diese
Reflexionen ebenfalls durch Blenden unterdrückt.
Durch dieses der Anwendung entsprechende
Messverfahren ergibt sich für die Anwender eine
besser
verwertbare
Größe.
Diese
Lochblendenmessung ist gekennzeichnet durch den
Eintrag "E 7800", der an die Typenbezeichnung
angehängt ist.
2014-01-16
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